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氧化膜测厚仪

]资料
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产品名称: 氧化膜测厚仪
产品型号: TT230
产品展商: 其它品牌
简单介绍
本仪器符合以下标准:GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》


氧化膜测厚仪的详细介绍

产品概述:

       氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

功能特点:

􀁺氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
􀁺可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
􀁺具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
􀁺具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
􀁺具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
􀁺设有五个统计量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
􀁺具有米、英制转换功能;
􀁺具有打印功能,可打印测量值、统计值;
􀁺具有欠压指示功能;
􀁺操作过程有蜂鸣声提示;
􀁺具有错误提示功能;
􀁺具有自动关机功能。

技术参数:

测头类型

N

测量原理

电涡流

测量范围

0-1250um/0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力

1µm(10um以下为0.1um)

探头连接方式

一体化

示值误差

一点校准(um)

±[3%H+1.5]

两点校准(um)

±[(1%~3%)H+1.5]

测量条件

小曲率半径(mm)

凸3 凹10

基体小面积的直径(mm)

ф5

小临界厚度(mm)

0.3

温湿度

0~40℃
20%RH~90%RH

统计功能

平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

工作方式

直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式

连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

上下限设置

存储能力

15 个测量值

打印/连接计算机

可选配打印机/不能连接电脑

关机方式

自动

电源

二节3.6V镍镉电池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

 

基本配置:􀁺主机  􀁺标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)  􀁺铝基体  􀁺充电器

可用附件:   TA230打印机

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